- 首頁(yè)>
- 產(chǎn)品>
- 質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析軟件系統(tǒng)>
- GCxGC-Analyzer:用于GCxGC-MS數(shù)據(jù)分析的解卷積和鑒定軟件
GCxGC-Analyzer:用于GCxGC-MS數(shù)據(jù)分析的解卷積和鑒定軟件
GCxGC-Analyzer是一款用于檢測(cè)和鑒定GCxGC/MS數(shù)據(jù)中所有峰的軟件產(chǎn)品。強(qiáng)大的差分分析算法允許您基于完全TIC處理或所有單個(gè)碎片離子的比較來(lái)檢測(cè)樣本和對(duì)照品之間的微小差異,,為故障排除和產(chǎn)品控制提供有力支持,。通過(guò)NIST MS譜庫(kù)檢索來(lái)準(zhǔn)確地自動(dòng)鑒定所有的被檢測(cè)成分,。此外,GCxGC-Analyzer還可用于對(duì)單個(gè)樣品進(jìn)行解卷積和鑒定,,從而進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)。

詳情介紹
GCxGC-Analyzer 軟件特征:
數(shù)據(jù)導(dǎo)入:
直接從所有主要供應(yīng)商導(dǎo)入數(shù)據(jù),。比較樣品和對(duì)照品的TIC,、質(zhì)譜圖和EIC圖。GCxGC-Analyzer以不同的視角探索海量數(shù)據(jù),,例如三維圖,、熱圖、選定的離子圖,、TIC和質(zhì)譜圖,。
峰檢測(cè):
GCxGC-Analyzer能在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)所有數(shù)據(jù)文件中具有真正色譜峰形狀的峰。峰檢測(cè)可以在TIC或所有單個(gè)的碎片離子上進(jìn)行,。使用“全離子模式”,,更多的微小成分將被檢測(cè)到!
差異分析:
運(yùn)行差異分析,,可以在非常低的信號(hào)中找到樣品和對(duì)照之間的所有不同的成分,。通常在故障排除或產(chǎn)品控制中使用差異分析。點(diǎn)或氣泡圖很容易讓你探索所有不同的離子,。所有圖形都是高度交互的,。快速獲得不同組分的檢測(cè)列表以及它們的鑒定結(jié)果,。
解卷積:
GC/MS數(shù)據(jù)分析中最困難的步驟就是解卷積,。GCxGC-Analyzer可以根據(jù)數(shù)據(jù)的復(fù)雜性而使用不同級(jí)別的解卷積算法。對(duì)于更復(fù)雜的樣品,,解卷積可以基于TIC或使用強(qiáng)大的“全離子”模式,。在解卷積的結(jié)果中可以查看所有檢測(cè)到的成分或僅顯示差異峰。解卷積后的”純凈“質(zhì)譜圖將鏈接至NIST MS譜庫(kù)進(jìn)行檢索以得到完整的鑒定結(jié)果,。
鑒定:
GCxGC-Analyzer可以直接使用NIST MS譜庫(kù)和用戶自有譜庫(kù)進(jìn)行檢索分析,,以得到每個(gè)峰的完整鑒定結(jié)果。譜庫(kù)檢索可以基于整個(gè)GCxGC/MS的所有峰,,也可以僅基于單個(gè)選定的峰,。