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提高高分辨質(zhì)譜的分子式識別能力

　　√ 不需標準物，通過線形校正 得到同位素模型

　　√ 對比理論譜圖，校正后譜圖可達99.9%以上的譜圖準確度

　　√ 避免了頻繁的質(zhì)量校正工作

　　√ 可用于TOF、OrbiTrap、FT-ICR、高分辨四極桿型和扇型磁場等儀器

　　sCLIPS(自校正線形同位素輪廓搜索)是全新、的質(zhì)譜校正方法，可以大大提供任何高分辨質(zhì)譜分子式識別的置信度。即使對于高達1,000,000的強大分辨能力的FT-ICR-MS，雖然可達到次ppm級的質(zhì)量精度，但對于完全未知物的分子式識別也幾乎是不可能的，特別當離子的質(zhì)量數(shù)大于400 Da時。例如，質(zhì)量精度為1 ppm，測得離子的質(zhì)量數(shù)為477.2303 Da，對于通常的有機元素組成C、H、N、O、S、Cl、P、F和Na，仍有569種可能的分子式。而利用同位素分布提供的有用附加信息，可以可靠地測量同位素分布的微小差別(小于1%)，因此可以區(qū)分相似的分子式待選物。

　　即使是1 ppm的質(zhì)量精度也提供幾十到上百種待選分子式。

　　--譜圖準確度能告述您這里面哪個是正確的分子式

　　MassWorks軟件的sCLIPS通過將質(zhì)譜的線形校正為可用數(shù)學表達的函數(shù)，地解決了這個問題，可以利用譜圖準確度值，非常地對比校正譜圖與理論譜圖，實現(xiàn)未知離子分子式的識別。sCLIPS充分利用了未知離子的單同位素峰與其它同位素峰很好分離的特點，不需要使用內(nèi)標或外標，直接得到測量的峰形函數(shù)，通過MassWorks產(chǎn)生單同位素峰的線形校正函數(shù)，并將其應用到離子的整個同位素輪廓。這個線形校正譜圖，能夠可視和定量地與用相同的線形函數(shù)計算得到的理論譜圖進行比較。得到的譜圖準確度值提供了準確和強大的計量工具，能從質(zhì)量得到的長長可能分子式列表中得到正確的分子式。

 　　sCLIPS從2 ppm質(zhì)量精度的FT-ICR的100種可能分子式中提供了的分子式識別

如何應用sCLIPS到測試數(shù)據(jù)

　　執(zhí)行sCLIPS搜索非常快速、簡單

　　● 利用MS數(shù)據(jù)系統(tǒng)簡單采集數(shù)據(jù)，MassWorks直接讀取原始MS數(shù)據(jù)，或?qū)④浖羟泻驼迟N輸出得到的ASCII文件直接輸入到MassWorks軟件中。

　　● 點擊未知離子的單同位素，從下來菜單中選擇“sCLIPS”

　　● 設定搜索元素、質(zhì)量誤差，然后點擊“Search”

　　這就是整個過程。在幾秒鐘內(nèi)，完成線形校正，產(chǎn)生基于質(zhì)量誤差的分子式列表、搜索并根據(jù)譜圖準確度排序，然后顯示全部排序后的sCLIPS報告。也能瀏覽不同譜圖準確度的待選分子式并檢查，報告也能夠通過Windows剪切板打印或輸出。

sCLIPS提供的其它優(yōu)點

　　由于未知化合物提供了近似理想的線形校正物，sCLIPS不需要測量校正物，而實現(xiàn)快速、簡單進行。對于得到高質(zhì)量精度，可以避免頻繁、耗時的校正需要，為您節(jié)約更多時間，提高樣品分析通量，也改善了分析結(jié)果。

　　譜圖準確度、與理論譜圖的對比和疊加功能，可以幫助您很容易識別干擾的存在，或不合適的儀器條件，這些都可能導致昂貴的、耗時的、窘迫的，有時設置是危險的分子式錯誤識別。sCLIPS也能在存在已知離子干擾或來自如M-H、M或M+H共存物的普通碎片干擾的情況下，通過強大的混合物搜索工具，實現(xiàn)準確的分子式識別，這點對于單獨的質(zhì)量測定是無法實現(xiàn)的。

 圖1. 依米丁的sCLIPS結(jié)果(正確化合物的sCLIPS校正譜圖與理論譜圖的疊加)

圖2. M+1峰的放大視圖(未校正譜圖與高譜圖準確度值的校正譜圖具有很大的譜圖差異)

     表1. 來自TOF儀器，并根據(jù)譜圖準確度排列得到的依米丁(C₂₉H₄₁N₂O₄⁺)的搜索列表(利用C、H、N、O和S元素搜索得到的179個分子式)。表明MassWorks的sCLIPS很容易識別小到千分之幾的譜圖差異，這對于未經(jīng)適當線形譜圖校正是不可能的。也應該注意到，儀器盡管沒有很好的校正，譜圖準確度在質(zhì)量精度超過10 ppm時，也很容易實現(xiàn)正確的分子式識別。

圖3. sCLIPS校正和分子式測定的流程圖(整個過程在MassWorks軟件中一次操作自動運行)

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